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Jenoptik開發了新一代光學測量系統，使生產過程中的質量控制更容易。

Jenoptik OPTICLINE測量系統

多年來，Opticline系列測量系統已成為光學軸測量技術的基準。它們具有令人印象深刻的高測量速度，度易用性。 2015年，推出了新一代產品，提供了多項技術創新和優化。我們的系統可以在生產中實現高效透明的質量控制

明顯更接近

Opticline測量系統專門設計用于惡劣的生產環境。它們非常堅固，不受外部影響。它們還提供集成的自我監控功能，確保大的系統可用性。

我們的光學系統可以對您的工件進行以下測量：

尺寸測量（長度和直徑，半徑和角度）

螺紋尺寸（尺寸，形狀）

形狀測量（直線度，圓度，圓柱度）

型材形式（自由形式，公差范圍，凸輪形狀）

位置測量（徑向跳動和軸向跳動，直線度，對稱性和平行度，同心度和同軸度）

明顯更快

Opticline系統以全自動光學和非接觸式工藝測試您的工件，并在極短的時間內分析復雜工件的輪廓。由于它們在實際生產過程中的使用，它們不僅可以大限度地減少操作員路線，還可以降低成本，浪費和錯誤來源。這可以節省您的成本，時間和資源。

我們的測量和評估軟件可幫助您完成測量任務。它易于理解和直觀使用。它可以快速調整到定義的工作流程，甚至是復雜的測試特征。

高度的能力和超過25年的經驗

光學測量系統融合了我們在工業計量領域的廣泛專業知識和長期經驗。全球有超過2,500臺Opticline測量系統使用，并取得了成功的記錄。

咨詢我們的專家，找到符合您測量任務的系統。我們根據需要為您的質量控制開發定制設計。

代表型號：

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